服务能力

(说明:请输入需要查询仪器名称,系统会进行模糊查询。查询结果仅供参考。)
认可的校准与测量能力
被测(参量/仪器/物质) 校准类别/校准参量 测量仪器型号/校准方法 扩展不确定度 测量环境/影响量 测量等级
标准电容器(密封, 氮气及石英介质) 电容:电容及损耗因数 直接比对
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:频率
指标:50 Hz to 1000 Hz
最小:0.5
最大:1.00E+06
单位:pF
电容箱 电容:电容及损耗因数 直接比对
数值:100
单位:?F/F
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:电容
指标:1 pF to 1E+06 pF
最小:1
最大:1.00E+06
单位:pF
电容箱 电容:电容及损耗因数 直接比对
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:频率
指标:100 Hz, 120 Hz
最小:1
最大:1.00E+06
单位:pF
标准电容(4TP) 电容:空气电容器电容及损耗因数 网络分析
数值:30 to 6000
单位:?F/F
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:电容
指标:1 pF, 10 pF, 100 pF, 1000 pF
最小:1
最大:1000
单位:pF
标准电容(4TP) 电容:空气电容器电容及损耗因数 网络分析
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:频率
指标:10 kHz to 10 MHz
最小:1
最大:1000
单位:pF
标准电容(4TP) 电容:介质电容器电容及损耗因数 直接比较
数值:60 to 500
单位:?F/F
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:电容
指标:0.01 ?F, 0.1 ?F, 1 ?F
最小:0.01
最大:1
单位:?F
标准电容(4TP) 电容:介质电容器电容及损耗因数 直接比较
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:频率
指标:10 kHz to 1 MHz
最小:0.01
最大:1
单位:?F
标准电容 (4T) 电容:介质电容器电容 采样及感应分流器
数值:100
单位:?F/F
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:电容
指标:10 ?F, 100 ?F, 1000 ?F
最小:10
最大:1000
单位:?F
标准电容 (4T) 电容:介质电容器电容 采样及感应分流器
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:频率
指标:100 Hz ,120 Hz,1 kHz
最小:10
最大:1000
单位:?F
标准电容 (4T) 电容:介质电容器损耗因数 采样及感应分流器
数值:3E-04 to 4E-04
单位:
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:No
参量:电容
指标:10 ?f, 100 ?F, 1000 ?F
最小:0
最大:1
单位:
开展校准的被测设备清单
被测设备名称 校准方法(名称、编号、版本号) 限制范围和说明
*影像测量仪(视觉测量仪、图像测量仪、带影像测头的坐标测量机) JJF1318-2011影像测量仪校准规范
标准环规 JJG 894-1995标准环规检定规程
塞规 JJG 343-2012 光滑极限量规检定规程
标准球 JJG 429-2000 圆度圆柱度测量仪检定规程 JJF 1422-2013 坐标测量球校准规范
孔径测量仪 JJG 467-1986孔径测量仪检定规程
圆度测量(圆度仪、圆度、圆柱度测量仪半球、定标块) JJG 429-2000 圆度、圆柱度测量仪检定规程
钢筋保护层、楼板厚度测量 JJF 1224-2009 钢筋保护层、楼板厚度测量仪校准规范
激光对中仪 ISO 1101-2017 产品几何技术规范(GPS)— 几何公差—形状、方向、位置和跳动公差
平面平晶(平晶) JJG28-2000 平晶检定规程
研磨面平尺 JJG740-2005研磨面平尺检定规程
认可的检测能力
检测对象 检测标准名称及编号 项目名称 说明
扫描电子显微镜 扫描电子显微镜试验方法 JB/T6842-1993 4.3 真空度
扫描电子显微镜 扫描电子显微镜试验方法 JB/T6842-1993 4.5 图像畸变
扫描电子显微镜 扫描电子显微镜试验方法 JB/T6842-1993 4.11 试样台精确度
原子力显微镜 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 GB/T?27760-2011 全部条款 全部项目
微纳样板 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 测量标准 第1部分:实物测量标准 GB/T 19067.1-2003/ISO5436-1:2000 5.2, 6.1, 7.1, 7.2 深度测量标准 只测10nm~10um
薄膜 X射线反射法评估薄膜的厚度、密度和界面宽度—仪器要求,准直和定位,数据收集,数据分析和报告 ISO 16413:2013(E) 薄膜厚度
微纳米材料 金属材料—硬度和材料参数的仪器化压入试验 ISO 14577-1:2015(E) 压入硬度
微纳米材料 金属材料—硬度和材料参数的仪器化压入试验 ISO 14577-1:2015(E) 折合模量
照相物镜 光学传递函数应用35mm照相机用可换镜头 JB/T 5522-1991 /4.4 调制传递函数
光学零件 光学零件的面形偏差 GB/T 2831-2009 /7 面形偏差