服务能力

(说明:请输入需要查询仪器名称,系统会进行模糊查询。查询结果仅供参考。)
认可的校准与测量能力
被测(参量/仪器/物质) 校准类别/校准参量 测量仪器型号/校准方法 扩展不确定度 测量环境/影响量 测量等级
丙氨酸剂量计 水吸取剂量 在校准过的辐射场中辐照
数值:4
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Co-60
指标:1300 TBq (2012), 0.3 m to 1.0 m
最小:5.00E+01
最大:4.00E+04
单位:Gy
常规监测剂量计 水吸取剂量 在校准过的辐射场中辐照
数值:4
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Co-60
指标:1300 TBq (2012), 0.3 m to 1.0 m
最小:4.00E+01
最大:1.00E+05
单位:Gy
Co-60 field dose mapping 水吸取剂量 在辐射场中辐照一组剂量计
数值:4
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Co-60
指标:no further specifications
最小:4.00E+01
最大:4.00E+04
单位:Gy
剂量仪 水吸取剂量 在水模体中在校准的辐射场中辐照
数值:1.1
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Co-60
指标:30 TBq(2006),治疗水平
最小:4.00E-04
最大:8.00E-04
单位:Gy s-1
剂量仪 水吸取剂量 在水模体中在校准的辐射场中辐照
数值:1
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Co-60
指标:300 TBq(2009),治疗水平
最小:1.00E-03
最大:1.00E-02
单位:Gy s-1
Electron beam field dose mapping 水吸取剂量 在辐射场中辐照一组剂量计
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Electrons
指标:electron beam accelerator, 300 keV to 10 MeV
最小:1.00E+03
最大:2.00E+05
单位:Gy
剂量仪 空气比释动能率 在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Co-60
指标:ISO 4037, 43TBq (1986)
最小:2.00E-02
最大:3.00E-01
单位:Sv h-1
剂量仪 空气比释动能率 在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Co-60
指标:ISO 4037, 111GBq (2014)
最小:1.00E-03
最大:3.00E-02
单位:Sv h-1
剂量仪 空气比释动能率 在校准过的辐射场中辐照
数值:5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Co-60
指标:ISO 4037, 93 GBq (1996)
最小:1.00E-04
最大:2.50E-03
单位:Sv h-1
剂量仪 空气比释动能率 在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:
参量:Cs-137
指标:ISO 4037, 2.2TBq (2014)
最小:1.00E-02
最大:1.50E-01
单位:Sv h-1
开展校准的被测设备清单
被测设备名称 校准方法(名称、编号、版本号) 限制范围和说明
林格曼黑度计 NIM-ZY-GX-CP-209反射密度校准规范
逆反射标准板 JJF1546-2015逆反射标准板校准规范
逆反射标志测量仪 JJF1546-2015逆反射标准板校准规范 逆反射测量仪 (GB/T 26377-2010)
单波长辐射功率计(254 nm) NIM-ZY-GX-FS-406单波长辐射功率计校准规范
氘灯(紫外辐射标准光源、紫外辐射标准灯) JJG384-2002 光谱辐射照度标准灯检定规程; NIM-ZY-GX-FS-403 氘灯光谱辐射照度校准规范。 测量200-400nm光谱辐射照度
水冷氙灯(水冷氙灯灯管) JJF1525-2015氙弧灯人工气候老化试验装置辐射照度参数校准规范 测量340nm、420nm等光谱辐射照度及300-400nm,300-800nm等辐射照参数
椭偏仪、硅片标片、氧化硅薄膜、氮化硅薄膜标准样品、非标光学薄膜、薄膜折射率标样/标片、反射式相位延迟膜 NIM-ZY-GX-FS-405椭偏仪校准规范(已报批) NIM-ZY-GX- FS-412椭偏仪校准装置和标准样品椭偏角校准规范 Preparation and certification of SRM2530, ellipsometric parameters Δand ψ and derived thickness and refractive index of a silicon dioxide layer on silicon (NIST. Spec. Publ. 260-109, 1988) GJB/J 5463光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程 椭偏角(CNAS),模型等效介质参量:薄膜折射率n、薄膜色散n(λ)及k(λ)、平均膜厚等。
测光表 JJG1325-90曝光量基准 曝光量、时间响应、F数、EV值
多光谱相机 JJG1325-90曝光量基准 光谱响应、动态范围、线性、分辨率、空间频率响应
闪光标准灯 JJG1325-90曝光量基准 GB/T 13987-92照相用电子闪光装置闪光指数的确定
认可的检测能力
检测对象 检测标准名称及编号 项目名称 说明
声级计 声级计 OIML R58:1998 2 声学项目
声级计 积分平均声级计 OIML R88:1998 2 声学项目
声级计 声级计 第一部分:规范 IEC 61672-1:2013 5 声学项目
声校准器 电声学 - 声校准器 IEC 60942:2003 5 声学项目
声校准器 声校准器 OIML R102:1992 2 声学项目
声校准器 电声学 - 声校准器 GB/T 15173-2010 5 声学项目
纯音听力计 纯音听力计 OIML R104:1993 2 声学项目
纯音听力计 电声学 测听设备 第1部分:纯音听力计 GB/T 7341.1-2010 6.1.2; 8.3 声学项目
带通滤波器 倍频程和1/3倍频程滤波器 OIML R130:2001 2 声学项目
带通滤波器 电声学-倍频程和分数倍频程滤波器 GB/T 3241-2010 4 声学项目